日本J-RAS離子遷移試驗裝置
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從當(dāng)今的地球・市場環(huán)境來看，省能源・鉛/無鹵素・小型輕量・低價格・高信賴等觀點出發(fā)的，
新素材・新實裝方法的研究開發(fā)・評價方法的重估是必須的。
J-RAS公司把握市場的需要，為您提供容易操作而且可以進行高信賴性評價試驗的，
新時代離子遷移實驗裝置 ECM-100系列。
簡介：離子遷移實驗裝置是一種信賴性試驗設(shè)備，原理為印刷電路板上給予一固定的直流
電壓（BIAS VOLTAGE）,經(jīng)過長時間的測試（1～1000小時）并觀察線路是否有瞬間短路的
現(xiàn)象發(fā)生（ION MIGRATION）,并記錄阻抗變化狀況，故又叫做CAF試驗，絕緣阻力電阻試驗，或者是OPEN/SHORT試驗，我們將其統(tǒng)稱為絕緣劣化試驗。（ION MIGRATION TESTING）
適用規(guī)格：JPCA-ET01-2001
離子遷移、電遷移、在PCB中離子遷移的危害與對策
PCB離子遷移研究及其故障分析 /SIR表面絕緣電阻測試系統(tǒng)
線路板表面絕緣電阻檢測/PCB表面絕緣電阻
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