您當(dāng)前查找的是: 省市區(qū)域:北京 欄目類(lèi)別:供應(yīng)信息 一級(jí)分類(lèi):儀器 二級(jí)分類(lèi):光學(xué)儀器 三級(jí)分類(lèi):光學(xué)材料測(cè)試儀器
太陽(yáng)能級(jí)硅少子壽命測(cè)試儀 功能特點(diǎn):本設(shè)備是按照國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T1553“硅單晶少數(shù)載流子壽命測(cè)定的高頻光電導(dǎo)衰減法”設(shè)計(jì)制造。高頻光電導(dǎo)衰減法在我國(guó)半導(dǎo)體集成電路、晶
母合金 半導(dǎo)體拉晶的重要摻雜元素 產(chǎn)品特點(diǎn) 進(jìn)口12N電子極原生多晶硅,配摻高純度硼粉(7N)級(jí)。目前廣泛應(yīng)用在拉單晶上的為硅硼負(fù)三合金。 母合金摻雜
硅料檢測(cè)分選儀 該儀器專(zhuān)門(mén)為硅料分選而設(shè)計(jì),可以快速準(zhǔn)確的測(cè)量PN型、重?fù)、電阻率。?duì)碎片料、米粒料、片料,塊料,頭尾料、堝底料、邊皮料均可測(cè)量。系統(tǒng)同時(shí)配備三探
單晶型號(hào)測(cè)試儀 單晶型號(hào)測(cè)試儀是快速鑒別硅晶材料的導(dǎo)電類(lèi)型“P”和“N”的測(cè)量?jī)x器,測(cè)量范圍寬,硅材料電阻率從0.01~199.9Ω*cm。 功能特點(diǎn) 儀器采用進(jìn)口16
硅芯電阻測(cè)試儀 硅芯電阻率測(cè)試儀是按照我國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T1551-1995及美國(guó)材料與試驗(yàn)協(xié)會(huì)(ASTM)推薦的材料驗(yàn)收檢測(cè)方法設(shè)計(jì)。它適合于測(cè)量橫截面面積均勻的圓型,
硅片電阻測(cè)試儀 硅片電阻測(cè)試儀是用來(lái)測(cè)量硅片、硅單晶、鍺單晶電阻率的測(cè)量?jī)x器。它由電氣測(cè)量部份(簡(jiǎn)稱:主機(jī))、測(cè)試架、四探針頭及專(zhuān)業(yè)測(cè)量軟件組成。 功能特點(diǎn)
少子壽命測(cè)試儀 XH-120是一款經(jīng)濟(jì)實(shí)用的硅晶片少子壽命測(cè)量?jī)x器,控制裝置既適用于研究也適用于生產(chǎn)。采用準(zhǔn)穩(wěn)態(tài)光電導(dǎo)(QSSPC)測(cè)量方法測(cè)量,此方法是測(cè)量硅片,摻
電阻率厚度測(cè)試儀 產(chǎn)品型號(hào):進(jìn)口 功能特點(diǎn) 專(zhuān)為測(cè)量太陽(yáng)能硅片電阻率及厚度所設(shè)計(jì),操作簡(jiǎn)單,一次測(cè)量,同時(shí)顯示電阻率及厚度值。利用電容及電感傳感
硼磷含量測(cè)試儀 產(chǎn)品型號(hào):進(jìn)口 功能特點(diǎn) 該測(cè)試儀可以準(zhǔn)確的測(cè)出硅料中硼、磷等多達(dá)70多種雜質(zhì)的含量。能夠進(jìn)行定性及定量分析,能實(shí)現(xiàn)一次進(jìn)
碳氧含量測(cè)試儀(延伸閱讀-硅晶體中碳氧含量的檢驗(yàn)原理及方法) 產(chǎn)品型號(hào):進(jìn)口 此款硅料碳氧含量測(cè)試儀是我公司最新從國(guó)外引進(jìn)的設(shè)備。它結(jié)合了當(dāng)今最新的光學(xué)、電
RTM660C無(wú)接觸式硅片厚度電阻率測(cè)試系統(tǒng) RTM660C采用高精度的厚度及電阻率探頭,配以強(qiáng)大的軟件控制,可以用多種方式進(jìn)行無(wú)接觸式測(cè)量,使得測(cè)試過(guò)程變得十分高效。系
電阻率厚度測(cè)試儀 產(chǎn)品型號(hào):進(jìn)口 Thesystemconsistsofthemeasuringhead,anelectronicracklinkedbyonestandardcablewith25-pinD-connectoraPC.