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產(chǎn)品簡(jiǎn)介
MJLD型法向發(fā)射率測(cè)量裝置
產(chǎn)品介紹
MJLD型法向發(fā)射率測(cè)量裝置,主要用于測(cè)量材料的太陽(yáng)法向發(fā)射率。配有計(jì)算機(jī)和專(zhuān)用工作軟件,實(shí)現(xiàn)自動(dòng)測(cè)量的先進(jìn)測(cè)量設(shè)備。本裝置是由國(guó)防航天軍工科技企業(yè)和航天著名專(zhuān)家研究員聯(lián)合研制。是航天系統(tǒng)測(cè)量專(zhuān)家的智慧結(jié)晶。本設(shè)備是國(guó)內(nèi)首創(chuàng),填補(bǔ)國(guó)內(nèi)測(cè)量材料太陽(yáng)法向發(fā)射率儀器的空白,同時(shí)在測(cè)量方法上有進(jìn)一步的創(chuàng)新。
主要用途
測(cè)量材料表面的法向發(fā)射特性。
技術(shù)指標(biāo)
法向發(fā)射率
◆測(cè)量范圍:0.0 5~0.9 9
◆工作溫度范圍:室溫~100℃
◆測(cè)量不確定度:當(dāng)εn>0.7 為±1.5%;當(dāng)εn<0.2 為±5%;其余為2%
◆探測(cè)器:平面熱電堆
◆峰值波長(zhǎng):8.4~11μm